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熱沖擊低溫沖擊箱

簡要描述:

熱沖擊低溫沖擊箱,也叫熱沖擊試驗箱,或者低溫沖擊箱,是測試各類型的工業(yè)產(chǎn)品,非常實用的生產(chǎn)和檢測工具。多用于電子,LED,電池,化工,塑料,儀器儀表等行業(yè)。

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熱沖擊低溫沖擊箱

熱沖擊試驗箱也叫低溫沖擊箱、冷熱沖擊箱,是測試各類型的工業(yè)產(chǎn)品,非常實用的生產(chǎn)和檢測工具。多用于電子,LED,電池,化工,塑料,儀器儀表等行業(yè)。

 冷熱沖擊試驗箱可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:Temperatre Cycling 或Temperatre Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

 ◆ 可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能

◆ 等均溫速率可設(shè)定范圍5℃~30℃(40℃)

◆ 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求

◆ 采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行

◆ 除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成

◆ 通信配置RS232接口和SB儲存曲線下載功能

◆ 感測器放置測試區(qū)出(回)風口符合實驗有效性

◆ 機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能

冷熱沖擊試驗箱應(yīng)用標準

1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件

2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件

3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件

4.GB/T 2423.1-2001 試驗A:低溫試驗方法

5.GB/T 2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法 

6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法

7.GJB150.3-1986高溫試驗

8.GJB150.4-1986低溫試驗

 滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求 

產(chǎn)品&規(guī)范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

循環(huán)時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

71℃

-54℃

5℃/min

10

————

MIL-2164A-19
電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍*制造篩選

設(shè)備或系統(tǒng)

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

組件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南

設(shè)備或系統(tǒng)

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

筆記本電腦

主板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——————

Models

COK-50

COK-100

COK-150

COK-252

Inside Dimensions
W x D x H cm

40X35X35

50X50X40

60X50X50

70X60X60

Otside Dimensions
W x D x H cm

140X165X165

150X200X175

160X225X185

170X260X193

Precool/Preheat Range

-00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃
Shocking Range-10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

Time Range

0 hor 1 min ~ 9999 hor 59 min/segment

Resoltion

0.01℃/min

Temperatre niformity&plsmn;3.00℃以內(nèi)(nder℃3.00℃)
Range of temperatre variation(℃/min)+5℃~+30℃/min(+40℃)

(Three boxes)range of box brshing

-65℃~+150℃ &plsmn;2.00℃以內(nèi)(nder &plsmn;2.00℃)

(Two boxes)range of box brshing

-55℃~+150℃ &plsmn;2.00℃以內(nèi)(nder &plsmn;2.00℃)

 * 以上規(guī)格僅供參考,如有變更不另行通知。

 

  冷熱沖擊試驗箱溫度可控制速率列表

TSR(斜率可控制
[5℃30 ℃/min]
 

 

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng)

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→

錫須溫度循環(huán)試驗

 

 

  熱沖擊低溫沖擊箱示意圖

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